四探針電阻率測試儀BEST-300C
價 格：詢價
產 地：北京更新時間：2025-02-11 13:03
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產品介紹
四探針電阻率測試儀BEST-300C
對悔 校準樣品，在四探針測R過的區域至少徽2次擴展電阻測Ω，測顯的長度大約等于四操針的網外探針之間的距離。
電流輸出：直流電流?0～1000mA?連續可調，由交流電源供電。為保證小信號測量條件，應使探針電勢不大于 20 mV。電導率：5×10-6～1×108ms/cmGB/T 1555 半導體單晶晶向測定方法GB/T 14847 重摻雜襯底上輕摻雜建外延層厚度的紅外反射測顯方法式中;p—-—電阻率，單位為歐姆厘來（0·cm）; a——接觸率徑，單位為厘米（cm） R，——擴展電阻，單位為歐姆（N），等式成立需符合如下三個假定條件;測量按CGB/T 1S59 確定樣品的導電類型，按GB/T 15 確定樣品的晶肉;如樣晶為外題片，按 GB/T 14847 確定樣品外延層的厚度， 按 6 章制備好樣品。
