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Appnano 熱掃描探針系統

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-18 15:11

品  牌:型  號:VertiSense

狀  態:正常點擊量:2521

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Scanning Thermal probe system熱掃描探針系統,可以和任何主流的的AFM進行聯用。可以同時獲得形貌 & 納米尺度的熱導率以及溫度分布,非常適合應用在納米線/碳纖維/聚合物復合材料等領域

 

模塊性能:

可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試

1) 溫度;

2) 溫度梯度變化曲線;

3) 定性熱導率;

4) 相變溫度;

5) 定性熱容量;

 

模塊優勢:

1)高性價比,能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能,價格僅為其為同類產品的***半;

2)精細測量,能達到20nm區域測溫;

3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形;

 

模塊掃描機制:

 

目前***內的******納米科學中心,中山大學,美***希捷硬盤公司在華的工廠均采購了這個模塊。

 

以下是***些典型的SThM熱導率測試以及溫度分布的測試案例:

 

1)左半部分納米線的形貌圖以及溫度分布的對應,右半部分為碳膜/Bi2Te3(熱電材料)的形貌圖以及熱導率圖對應。

 

 

2)碳纖維與環氧樹脂復合材料形貌與熱導率對應


 

 

3)聚合物纖維PCL-Coll_形貌與溫度分布對應


 

 



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