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Sphere-3000 球面光學元件反射率顯微檢測儀

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-18 17:54

品  牌:型  號:Sphere-3000 球面光學元件反射率顯微檢測儀

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 Sphere3000是***套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

Sphere3000球面光學元件反射率顯微檢測儀-特點:

 顯微測定微小領域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm

 CIE顏色測定  X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等

 檢測速度快  高性能探測器,能在幾秒內實現重現性高的測定

消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率。

 

Sphere3000球面光學元件反射率顯微檢測儀-技術參數

型號

Sphere-3000I型)

Sphere-3000II型)

Sphere-3000III型)

檢測范圍

380~800nm

380~1000nm

380~1100nm

波長分辨率

1nm

1nm

1nm

相對檢測誤差

1%

1%

0.5%

測定方法

與標準物比較測定

被測物再現性

±0.1%以下
(2
σ380nm~410nm 
±0.05%以下
(2
σ)(410nm~800nm)

±0.1%以下
(2
σ380nm~410nm
±0.05%以下
(2
σ)(410nm~1000nm)

±0.1%以下
(2
σ380nm~410nm
±0.05%以下
(2
σ)(410nm~1100nm)

單次測量時間

1s

精度

0.3nm

被測物N.A.

0.12(使用10×對物鏡時
0.24(
使用20×對物鏡時

被測物尺寸

直徑>1mm
厚度>1mm(使用10×對物鏡時
厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時

被測物測定范圍

約φ60μm(使用10×對物鏡時)      約φ30μm(使用20×對物鏡時

設備重量

15kg(光源內置)

設備尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用環境

水平且無振動的場所
溫度:23±5℃;濕度:60%以下、無結露,

操作系統

Windows XP, Windows VistaWin7

軟件

分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜折射率(有干涉條紋)測定


產品參數


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