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日本JEOL發(fā)射掃描電子顯微鏡 Serial Block-face SEM 3View 

肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結構進行三維分析。

產品規(guī)格：

產品特點：

· 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結構進行三維分析。

· 系統(tǒng)簡介

· JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進行數百微米區(qū)域的三維重構。通過三維重構能夠觀察二維圖像上無法看到的細胞的深處結構。

。外觀：

 操作

· 自動、反復地切割樣品和獲取圖像，能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像，通過軟件進行堆疊、調節(jié)、生成三維圖像。

 應用數據

小鼠大腦 突觸
細分數據
黃色區(qū)域：突觸囊泡
綠化面積：突觸后部增厚部分
紅色區(qū)域：突觸后部